Wybrane zagadnienia informatyki technicznej. Modelowanie i optymalizacja
Contributor: Date: Subject and Keywords:obliczenia granularne ; algorytm V-Detector ; testy krokowe ; układy cyfrowe ; Verilog
Resource Type: Language: Rights Management: Digitalization: Publisher:Oficyna Wydawnicza Politechniki Białostockiej
Place of publishing: Localization: